大口徑射電望遠鏡的表面精度是影響天線性能的重要因素之一,受面板加工、安裝以及重力、溫度和風載的影響,極大地限制了天線的觀測效率.基于較副面六聯(lián)桿更加精確可控的主動面技術(shù),首次采用澤尼克(Zernike)多項式表示連續(xù)變化的主動形變相位因子,通過調(diào)整主動面獲取遠場幅值,即可檢測表面誤差.通過建立數(shù)值仿真模型,計算了任意表面形變的恢復誤差,并研究了在多種連續(xù)主動面變化下的表面形變恢復效果.結(jié)果表明此方法可以穩(wěn)定精準地檢測表面形變,從而有效提高射電望遠鏡的觀測效率. 

【文章來源】：天文學報. 2017年05期 北大核心

【文章頁數(shù)】：11 頁

【文章目錄】：
1 引言
2 主動面相位恢復方法原理
3 仿真模型與結(jié)果分析
    3.1 遠場仿真模型
    3.2 仿真結(jié)果與分析
4 總結(jié)


【參考文獻】：
期刊論文
[1]TM65 m射電望遠鏡副面位姿建模[J]. 孫正雄,陳嵐,王錦清.  天文學報. 2016(01)
[2]65 m射電望遠鏡背架結(jié)構(gòu)日照溫度效應實驗研究[J]. 李干,李宗春,牟愛國.  天文學報. 2013(02)
[3]德令哈13.7m望遠鏡重力變形研究[J]. 左營喜,李陽,孫繼先,楊戟,李晶晶,徐燁,何登云,范欽紅,范生宏.  天文學報. 2011(02)
[4]天線反射面精度測量技術(shù)述評[J]. 李宗春,李廣云,吳曉平.  測繪通報. 2003(06)



本文編號：2920061