瞬變電磁與高密度電法在巖溶區(qū)探測(cè)中的應(yīng)用
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【部分圖文】:
圖3 瞬變電磁X-Y水平方向不同深度切片圖
為進(jìn)一步判斷在研究區(qū)內(nèi)通過瞬變電磁探測(cè)到的低阻異常區(qū)是否為巖溶發(fā)育以及確定其準(zhǔn)確的空間展布范圍,故在上述得到的異常區(qū)附近地表增加布設(shè)了三條高密度電法測(cè)線,用于進(jìn)一步綜合探測(cè)及準(zhǔn)確圈定巖溶位置。圖4為對(duì)三條高密度電法測(cè)線數(shù)據(jù)進(jìn)行處理后得到的電阻率反演剖面圖,其橫坐標(biāo)為測(cè)線長(zhǎng)度,縱坐....
圖1 現(xiàn)場(chǎng)綜合物探各測(cè)線布置示意圖
根據(jù)測(cè)區(qū)現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境條件,選擇垂直塌陷區(qū)走向方向布置測(cè)線,以充分獲取測(cè)區(qū)地下介質(zhì)信息,測(cè)線布置圖如圖1(a)~(b)所示。瞬變電磁法與高密度電法測(cè)線布置參數(shù)如表1、表2所示。瞬變電磁剖面測(cè)量和測(cè)深工作同時(shí)完成,從二維及三維斷面上對(duì)地層分布、斷裂構(gòu)造及塌陷區(qū)發(fā)育范圍進(jìn)行探查研究。表1....
圖2 瞬變電磁Y-Z方向各測(cè)線二維剖面圖
瞬變電磁數(shù)據(jù)采集完成,采用專業(yè)軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,獲得各測(cè)線二維剖面圖(見圖2),另外,通過提取各測(cè)線二維剖面中相同深度數(shù)據(jù)并進(jìn)行從新組合,最終獲得不同深度下的水平切片圖(見圖3)。其中,圖2為瞬變電磁Y-Z方向各測(cè)線二維剖面圖,橫坐標(biāo)為測(cè)線長(zhǎng)度,縱坐標(biāo)為高程,圖3為瞬變電磁X-Y....
圖2 瞬變電磁Y-Z方向各測(cè)線二維剖面圖
圖2瞬變電磁Y-Z方向各測(cè)線二維剖面圖由圖2可知,表層第四系土層表現(xiàn)為低電阻率,電阻率值多分布在10~25Ω·m,下部巖石層表現(xiàn)為較高電阻率,電阻率值多分布在30~65Ω·m。由圖2(a),1~4號(hào)測(cè)線下部的基巖中出現(xiàn)多個(gè)低阻異常區(qū),其中,YC-1與YC-2異常區(qū)發(fā)育范圍較大,....
本文編號(hào):4051013
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