基于軍方應用電子產(chǎn)品的極端環(huán)境,介紹了采用熱流罩測試的摸底價值�；�于熱流罩完全罩住被測器件,并持久保持在設定極限溫度點,器件在極端環(huán)境溫度下進行通電測試,可更準確地反映產(chǎn)品在極端環(huán)境下的真實特性。通過用熱流罩和現(xiàn)行的烘箱測試方法對運算放大器進行對比測試來進一步論證其準確性。該測試方法為軍用電子產(chǎn)品在高低溫測試摸底提供了參考。

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【部分圖文】：

圖1 應用熱流罩測試原理示意圖

熱流罩溫度控制系統(tǒng)原理如圖1所示，被測器件置于測試設備上，熱流罩調(diào)整至合適的角度，完全罩住被測器件。熱流罩系統(tǒng)開始工作，壓縮空氣經(jīng)熱流罩系統(tǒng)加熱或降溫至合適的溫度，高速連續(xù)噴射至熱流罩腔體內(nèi)進行熱交換，同時溫控探頭進行溫度監(jiān)控。一定時間后腔體內(nèi)溫度到達設定溫度，達到熱平衡。通過對....

圖2 烘箱后測試的溫度控制方法示意圖

采用4個器件在烘箱設定高低溫狀態(tài)并保持半小時后取出器件在室溫環(huán)境下進行測試，器件放入夾具進行測試過程中以30s為試驗統(tǒng)計時間，測量其器件殼溫變化，如圖3、4所示。圖3器件從高溫烘箱中取出30s內(nèi)殼溫變化（125℃起）

圖3 器件從高溫烘箱中取出30 s內(nèi)殼溫變化（125℃起）

圖2烘箱后測試的溫度控制方法示意圖圖4器件從低溫烘箱中取出30s內(nèi)殼溫變化（-55℃起）

圖4 器件從低溫烘箱中取出30 s內(nèi)殼溫變化（-55℃起）

圖3器件從高溫烘箱中取出30s內(nèi)殼溫變化（125℃起）3烘箱與熱流罩高低溫測試試驗對比

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