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原子分辨率短程化學(xué)力提取與勢(shì)能譜解算

發(fā)布時(shí)間:2024-11-12 21:07
   超高真空非接觸式原子力顯微鏡近年來(lái)飛速發(fā)展,在表面物理探測(cè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。其中短程化學(xué)力的定量測(cè)量對(duì)剖析物質(zhì)特性及反應(yīng)機(jī)理方面有著重要意義,是實(shí)現(xiàn)顯微鏡原子分辨率的關(guān)鍵要素。為精確測(cè)量短程化學(xué)力,基于球錐探針模型從理論上推導(dǎo)了頻率偏移(Δf)與原子間總作用力(Fts)的轉(zhuǎn)換關(guān)系,并分析作用力成分推導(dǎo)短程力求解算法。實(shí)驗(yàn)中,頻率偏移譜由漢明窗濾波后根據(jù)Δf-Fts方程解算得到總力譜(Fts-z),對(duì)其擬合并剔除長(zhǎng)程力以精確求解短程力譜(Fshort-z),并積分得到勢(shì)能譜。本文以Si(111)-(7×7)表面為實(shí)驗(yàn)研究對(duì)象驗(yàn)證算法可行性。

【文章頁(yè)數(shù)】:6 頁(yè)

【文章目錄】:
1 短程化學(xué)力提取原理
    1.1 原子間作用力解算
    1.2 短程化學(xué)力解算
        (1)原子間作用力組成
        (2)短程化學(xué)力提取
2 實(shí)驗(yàn)
3 結(jié)果與討論
4 總結(jié)



本文編號(hào):4011959

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