光譜輻射計(jì)作為一個(gè)高數(shù)據(jù)維和多參數(shù)維的精密光電儀器系統(tǒng),儀器精度的評(píng)估與優(yōu)化需要建立在高通量數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)與矩陣數(shù)據(jù)分析的基礎(chǔ)上。儀器系統(tǒng)中各種微分模型的降維和積分模型的升維需要測試分析并進(jìn)行反復(fù)迭代運(yùn)算,導(dǎo)致系統(tǒng)量化表征模型復(fù)雜、數(shù)據(jù)運(yùn)算量大�；�于多維參數(shù)和高維數(shù)據(jù)的光譜輻射計(jì)系統(tǒng)表征模型的發(fā)展滯后于核心器件及系統(tǒng)的研制,是制約光譜輻射測量系統(tǒng)精度提高的根本原因。隨著計(jì)算機(jī)在測控與數(shù)據(jù)分析中的應(yīng)用發(fā)展,光譜輻射測量相關(guān)的儀器建模及計(jì)量分析研究也日益增加,但是準(zhǔn)確評(píng)估和優(yōu)化光譜輻射計(jì)定標(biāo)精度研究仍然存在一些亟待深入研究的關(guān)鍵問題。針對(duì)光譜輻射計(jì)多維參數(shù)誤差特性中雜散光量化表征建模、CCD非線性模型的雙參數(shù)相關(guān)影響特性建模以及計(jì)量定標(biāo)不確定度評(píng)估中關(guān)鍵參數(shù)誤差特性等問題,開展了以下研究工作:(1)為獲取完整的系統(tǒng)參數(shù)信息用于實(shí)現(xiàn)參數(shù)調(diào)控,設(shè)計(jì)了光譜輻射計(jì),為誤差特性表征與定標(biāo)研究提供了儀器基礎(chǔ)。對(duì)接收函數(shù)特性、雜散光特性、狹縫耦合特性幾個(gè)關(guān)鍵影響環(huán)節(jié)進(jìn)行了分析研究和優(yōu)化設(shè)計(jì);為消除因體積減小而加強(qiáng)的雜散光影響,采用線性漸變?yōu)V光片和優(yōu)化雜散光陷阱的方法分別對(duì)帶內(nèi)高階雜散光與帶外漫射雜散光進(jìn)行了雜散...

【文章頁數(shù)】：149 頁

【學(xué)位級(jí)別】：博士

【部分圖文】：

圖1-2子問題分解邏輯框圖

估分析兩項(xiàng)內(nèi)容是對(duì)儀器精度量化表征的關(guān)鍵問題。因此，論文以光譜輻射計(jì)的定標(biāo)不確定度評(píng)估中的參數(shù)影響分析與特性表征的建模分析作為關(guān)鍵問題，以準(zhǔn)確評(píng)估及優(yōu)化儀器定標(biāo)精度為目標(biāo)，開展相關(guān)的技術(shù)與方法研究。針對(duì)光譜輻射計(jì)儀器系統(tǒng)，一些參數(shù)對(duì)儀器誤差特性的影響是非常關(guān)鍵的，可以將儀器的研究....

圖1-3太陽光度計(jì)：(a)系統(tǒng)照片；(b)原理圖

圖1-3給出了地基太陽光度計(jì)觀測系統(tǒng)及太陽光度計(jì)原理圖[17]。

圖1-4第三代BREWER太陽分光光度計(jì)：(a)儀器外觀；(b)儀器內(nèi)部結(jié)構(gòu)

圖1-3太陽光度計(jì)：(a)系統(tǒng)照片；(b)原理圖長期以來，對(duì)于太陽輻射的波長分布信息特征均是通過濾光片式的太陽光度計(jì)柵掃描式的分光光度計(jì)形式進(jìn)行觀測。G.M.B.Dobson最早利用太陽紫外波段輻吸光度進(jìn)行了大氣臭氧的測量，1924年通過攝譜儀和照相底片測量大氣臭氧....

圖1-5最早的地基SSI觀測儀器原理圖：(a)整機(jī)原理圖；(b)雙單色儀原理圖

圖1-5最早的地基SSI觀測儀器原理圖：(a)整機(jī)原理圖；(b)雙單色儀原片式的太陽光度計(jì)所采用的通道數(shù)目提高以后，進(jìn)行多個(gè)波長通道，也可以被稱為太陽分光譜輻照度計(jì)，每個(gè)通道的波長之間是間隔pectrafy公司設(shè)計(jì)的基于窄帶濾光片的輻射計(jì)可以簡單并列實(shí)現(xiàn)多輻射計(jì)，如圖....

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