糊化特性是小米的最重要加工特性之一,對小米的加工性能及產(chǎn)品質量有重要的影響�；�于可見-近紅外光譜特征信息,在不粉碎小米顆粒的狀態(tài)下,提出了一種快速無損檢測小米的糊化特性的方法。首先,獲取小米在370～1 020 nm范圍內(nèi)漫反射光譜后,將小米粉碎成小米粉,使用RAV快速粘度分析儀測定小米粉的峰值粘度(PV)、最低粘度(TV)、衰減值(BD)、最終粘度(FV)、和回升值(SB)、糊化溫度(GT)以及峰值時間(PT)等7個糊化特性指標。然后,對原始光譜進行Savitzkye-Golay(SG)平滑、多元散射校正(MSC)和一階導數(shù)法(1-D)預處理。最后,結合三種處理光譜和小米糊化特性指標值,通過Sample set partitioning based on joint x-y distances(SPXY)方法確定樣本的校正集和驗證集;基于連續(xù)投影算法(SPA)選擇了特征波長,利用特征波長反射光譜信號建立了小米糊化特性指標的多元線性回歸(MLR)預測模型,并使用驗證集樣本驗證MLR模型的預測準確性。糊化指標預測結果:對于粘度指標中的PV、 TV和SB參數(shù)值,經(jīng)過MSC預處理后光譜,分別...

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圖2技術路線圖

利用SPA選擇的特征波長變量,建立多元線性回歸(MLR)預測模型,使用驗證集評價模型的效果。模型校正和驗證結果使用校正相關系數(shù)R、校正均方根誤差SEC、預測相關系數(shù)Rp以及預測均方根誤差SEP等參數(shù)評價。本研究中數(shù)據(jù)處理是用MatlabR2014a(Mathwo....

圖3樣本的反射光譜

本研究使用光譜儀可獲取樣本345～1040nm波段反射光譜,在370～1020nm范圍外信號強度低,信噪比低,因此選擇370～1020nm范圍內(nèi)反射光譜進一步分析。圖3為經(jīng)過21點S-G平滑(帶寬4nm)光譜、MSC處理光譜和1-D處理光譜。圖3(a)和....

圖1典型小米糊化特性曲線及主要特征參數(shù)

使用RVA-TecMaster型快速粘度分析儀可以獲得小米典型糊化特性曲線,如圖1所示。圖中紅色線2表示測定過程中溫度隨時間變化,藍色線1表示粘度值隨時間變化曲線。試樣的糊化特性主要由粘度曲線上特征點數(shù)值表示。從曲線1中可直接得到4個特征參數(shù)點:A點是峰值粘度(pea....

圖4峰值粘度S-G處理光譜SPA特征波長選擇結果

表3所示為基于校正集的S-G,MSC和1-D預處理光譜使用SPA算法所選峰值粘度、最低粘度、衰減值、最終粘度、回升值、糊化溫度以及峰值時間等7個糊化特性指標SPA所選擇特征波長數(shù)量及波長。以PV值為例,從表中可以看出,經(jīng)過S-G處理光譜,SPA選擇了5個特征波....

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