氮化鎵/硅納米孔柱陣列紫外光電探測(cè)性能研究
【文章頁數(shù)】:73 頁
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
圖1.1MSM肖特基紫外探測(cè)器
引言的紫外探測(cè)器由兩組交叉指狀金屬電極在材料上構(gòu)成,器件制備工藝簡(jiǎn)單。雖然MSM結(jié)構(gòu)的GaN紫外探測(cè)器有很多優(yōu)點(diǎn),但由于工作時(shí)需要外加偏壓,而且器件對(duì)材料表面的平整度要求很高,從而使MSM結(jié)構(gòu)的紫外探測(cè)器在應(yīng)用上受到限制。而p-n型紫外探測(cè)器具有響應(yīng)快、具有暗電流小....
圖1.2為ZnO紫外探測(cè)器如圖1.3為一個(gè)異質(zhì)結(jié)紫外探測(cè)器,該研究工作將n-ZnO和p-GaN構(gòu)成異質(zhì)結(jié)構(gòu),利用ZnO與GaN不同的光吸收范圍形成窄的光吸收窗口層,從而實(shí)現(xiàn)
4肖特基二極管具有很多優(yōu)點(diǎn),如量子效率高、響應(yīng)速度快、暗電流低、高的紫外可見抑制比和0偏壓等優(yōu)點(diǎn)。如圖1.2所示,為一個(gè)光導(dǎo)型紫外探測(cè)器[29],半導(dǎo)體的正面為肖特基接觸,背面為歐姆接觸電極。右邊為能帶結(jié)構(gòu)分析圖,從圖上可知注入性能源于金屬與半導(dǎo)體功函數(shù)不同形成的靜電勢(shì)能差。圖....
圖1.3n-ZnO/p-GaN紫外探測(cè)器
圖1.3n-ZnO/p-GaN紫外探測(cè)器有以上不同結(jié)構(gòu)的紫外探測(cè)器的研究工作可知,紫外探測(cè)器多利用寬帶隙的直接帶隙半導(dǎo)體材料。為調(diào)控紫外探測(cè)的范圍,可通過一定的組分參雜來改變材料的帶隙寬度,從而使探測(cè)范圍改變。為提高器件響應(yīng)度或者響應(yīng)速度可通過一定器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),使器件具有高....
圖1.4GaN晶體六方纖鋅礦結(jié)構(gòu)
圖1.4GaN晶體六方纖鋅礦結(jié)構(gòu)纖鋅礦結(jié)構(gòu)GaN具有帶隙寬(<sup>3</sup>.4eV)、熱導(dǎo)率和電子遷移率高、介、熱穩(wěn)定性好、抗輻照能力強(qiáng)等優(yōu)異的物理和化學(xué)性能[34]。由于當(dāng)半縮小到納米尺寸時(shí),其物理和化學(xué)性質(zhì)將因表面界面效應(yīng)、量子尺寸效限域效應(yīng)、庫(kù)侖阻塞效....
本文編號(hào):4054843
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